LEEM

Medidas 

 

 

Caracterización de procesos dinámicos en superficies (incluyendo crecimiento) mediante microscopía de electrones de baja energía. Los microscopios de electrones de baja energía (LEEM por sus siglas en inglés) son instrumentos que permiten observar la superficie de un material cristalino en condiciones de ultra-alto vacío con resolución espacial de unos pocos nanómetros y resolución temporal de fracciones de segundo mediante la iluminación con un haz de electrones de energías comprendidas entre unos pocos eV y unos cientos.

La sensibilidad superficial viene dada por el rango de energía de los electrones empleados. La observación de la muestra se realiza mientras se puede proceder al crecimiento de materiales capa atómica capa atómica, y exponiendo a gases en presiones de alto vacío. Manipulando el sistema de lentes se pueden obtener imágenes de los electrones difractados por la muestra, permitiendo la realización de cristalografía de superficies en las mismas condiciones descritas anteriormente. Más aún, la selección de un haz difractado por la muestra permite la realización de imágenes de campo oscuro, donde sólo las regiones con un cierto orden superficial son visibles. Aprovechando el carácter ondulatorio de los electrones permite localizar en la muestra los escalones atómicos mientras los procesos de crecimiento o de evolución de la superficie tienen lugar.

Estos microscopios son empleados para observar en tiempo real el crecimiento de materiales por epitaxia de haces moleculares, y procesos dinámicos de superficies como transiciones de fase o la evolución en temperatura de estructuras nanométricas. Más información sobre estos instrumentos, su diseño y sus aplicaciones puede encontrarse en “Low-energy Electron Microscopy”, de Juan de la Figuera y Kevin F. McCarty, en el libro “Surface Science Techniques”, de la Springer Series in Surface Science, volumen 51, página 531.

 

 

Equipo

 

LEEM

Microscopio de electrones de baja energía ELMITEC III (https://www.elmitec.de). Permite la obtención de imágenes en modo de campo claro y de campo oscuro, microscopia “mirror”, y PEEM, la Adquisición de imágenes de difracción de electrones con selección de área pequeña de hasta 5 µm de diámetro, con resolución espacial de 10 nm, Energía de los electrones de iluminación en la muestra en el rango de -5 a 500 eV, y control de la temperatura de la muestra entre 150 K y 1800 K mientras la muestra está en observación.

 

Muestras

Las muestras tienen que ser compatibles con ultra-alto vacío y aguantar un campo eléctrico típico de 10kV/mm.

 

Precios

El precio por día de medida es de 637,78 €/día y para el análisis 424,03 €/día para instituciones externas.